Descrição
Microscópio de Força Atômica (MFA) ou em inglês Atomic Force Microscope (AFM), marca Agilent, modelo 5500. O equipamento conta com um scanner capaz de obter imagens de 8 x 8 µm, em modo de contato, contato-intermitente e não-contato. Podendo ser operado em célula líquida, com controle de temperatura e modo magnético.
Técnica
Para obter imagens através dessa técnica de microscopia, uma “sonda” com ponta muito fina (com poucos nanômetros de diâmetro), chamada cantilever, varre a amostra. As interações entre a ponta do cantilever e a amostra são detectadas e mapeadas. Conforme a topografia da amostra e as interações (atrativas ou repulsivas), o cantilever pode sofrer pequenas torções, as quais são detectadas por um laser que é incidido sobre ele. O laser é refletido do cantilever para um detector que capta as variações de movimento, construindo a imagem do material.
Aplicação
A microscopia de força atômica é capaz de caracterizar materiais em escala nanométrica, como nanopartículas, nanocristais de celulose, lipossomas e outros materiais. Além de realizar ensaios de rugosidade de superfícies, curvas de distância-força, interações entre moléculas dentre outras aplicações.
Fotos
Figura 1: Sistema de computadores conectados com o equipamento.
FONTE: BIOPOL (2020)
Figura 2: Equipamento marca Agilent, modelo 5500.
FONTE: BIOPOL (2020)
Figura 3: Funcionamento interno do equipamento.
FONTE: Cascudo et al (2018)
Autores
- Cassiano Pires
- Maria Jackeline R. dos Santos
Revisado e modificado por Rilton Alves de Freitas.
Termo de responsabilidade para o uso dos equipamentos do laboratório
Referências
‘Atomic force microscope’ disponivel em https://www.youtube.com/watch?v=8gCf1sEn0UU acesso jul. 2020.
Cascudo, O.; Fernandes, J.; Santos, T.; Carasek, H.; Contribuição à caracterização nanoestrutural de pastas de cimento por meio da técnica de Microscopia de Força Atômica. Matéria (Rio J.) vol.23 no.1 Rio de Janeiro 2018 Epub Mar 05, 2018.