Vem conhecer um pouco dessa técnica incrível!
A microscopia de força atômica (do inglês Atomic Force Microscopy – AFM) é uma técnica de análise que fornece informações tridimensionais e de alta resolução através da varredura da superfície de uma amostra. Os principais componentes do AFM são: um chip, que contém o cantilever, laser e fotodiodo (detector). O funcionamento é simples, durante a varredura de uma superfície, as interações atômicas entre a amostra e a ponta do cantilever fazem com que o mesmo sofra deflexão e torção. O laser, posicionado sobre o cantilever, é refletido para o fotodiodo e tais movimentações durante a varredura são capazes de gerar imagens tridimensionais da superfície através de um software em tempo real.
Um AFM pode escanear qualquer tipo de amostra (condutora ou não), desde polissacarídeos, nanopartículas e filmes. As dimensões de escaneamento variam de nanômetros até dezenas de micrômetros, possibilitando grandes áreas de observação. Muito além de imagens tridimensionais detalhadas, é possível obter informações sobre as propriedades mecânicas e físico-químicas de amostras, como rigidez, deformações plásticas, adesividade, rugosidade, curvas de forças etc.
O Biopol possui um AFM (Agilent 5500 SPM) que permite análises em modo contato, contato intermitente e não-contato. O equipamento também possui câmara de controle ambiental, possibilitando análises em diferentes atmosferas e também com baixa umidade relativa. Também é possível realizar análises em modo líquido, além do controle de temperatura.
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